许多分析仪器依赖于光学检测方法。然而,光学实验室设备本身就是非常多样化的。根据所采用的分析方法,需要不同的光学设备和具有不同性能的相应光学元件。由于设备的设计取决于它的供应商,我们分析了一些可能会对性能产生影响的光学实验室设备的基本元件和备件或辅助设备。
作为视孔、窗口或透镜的熔融石英光学元件的性能首先取决于光学加工,也可能取决于镀膜膜层。然而,选择正确的熔融石英也会产生不同的效果。在ppm/cm范围内的吸收对敏感的测量是很重要的。
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作为视孔、窗口或透镜的熔融石英光学元件的性能首先取决于光学加工,也可能取决于镀膜膜层。然而,选择正确的熔融石英也会产生不同的效果。在ppm/cm范围内的吸收对敏感的测量是很重要的。
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光学计量是用光进行测量的技术。通过与光可以相互作用,测量的内容可以是尺寸、形状以及温度或其他。用光进行尺寸测量是无接触的,而且基本都非常精确,因为光测量大多只受所用光的波长的限制。
另一个重要的光学分析方法是光谱学。光谱学是一个广泛的光学分析领域,侧重于通过电磁(EM)辐射研究物质。
如果波长范围在UV-VIS-NIR(从180nm到3500nm),则要使用熔融石英光学元件和光纤束。它可以直接探测吸收带,也可以间接探测,如通过发射蓝色切伦科夫光探测核粒子,或通过其他EM源对闪烁或荧光材料的辐照探测发射。
用于光谱学的光学元件和光纤遵循与民用光学元件(反光镜、窗口、透光镜和基片)相同的设计考虑,需要特别注意零荧光和最小吸收。由于很难区分吸收是由测量仪器还是由被测量的物质引起的,其中任何一种的存在都会使测量复杂化甚至无法进行。
例如,如果电磁波谱的某些区域被光学器件吸收了,就很难甚至无法观察到被分析物质的任何有可能的该区域的被吸收情况。如果光学材料显示荧光,也会出现类似的效果。在这种情况下,光学元件可能会掩盖被分析物质的所有吸收情况。
尽管熔融石英具有良好的化学稳定性,但在一些恶劣的条件下可能会老化或恶化。在这些条件下,部分等级的熔融石英比其它等级会有更好的表现,或者说更强的抵抗力。
由于上述原因,谨慎选择用于光谱研究的基板、光纤或比色皿是非常重要的。
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